CMOS gate-stack scaling - materials, interfaces and reliability implications : symposium held April 14-16, 2009
- Författare
- (Editors, Alexander A. Demkov ... et al..)
- Genre
- Konferenspublikation, Bibliografi
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Materials Research Society | c2009 | Pennsylvania, Warrendale, Pa | viii, 179 sidor. ill. 24 cm. | 978-1-60511-128-5 |